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第81章 龙芯硅片归来性能初探（第2页）

和“qimingxinLongxin-1ES”

字样的防静电包装盒被小心翼翼地打开，露出里面第一批封装好的工程样品（EngineeringSamples，ES）时，所有人的目光都聚焦在了那些比“启明一号”

略大一些、引脚也更密集的黑色芯片上。

“开始吧。”

顾维钧深吸一口气，声音沉稳，但微微颤抖的手指还是暴露了他内心的不平静。

一位年轻的测试工程师小心翼翼地将第一颗“龙芯一号”

ES芯片，放置在测试板的ZIF（零插拔力）插座上，轻轻扣下压杆。

连接好所有的测试线缆和接口。

“检查电源电压，确认极性无误。”

顾维钧一丝不苟地指挥着。

“电源电压正常，3.3V，1.8V核心电压稳定。”

“时钟信号输入正常，频率54mhz。”

“JtAG调试接口连接正常。”

“好，准备上电！”

顾维钧的目光扫过屏幕上的各项参数，确认无误后，下达了指令。

工程师按下了电源开关。

实验室里瞬间安静下来，只剩下仪器设备散热风扇的轻微嗡鸣声。

所有人的目光都死死地盯着测试平台上的指示灯和示波器的屏幕。

几秒钟过去了，没有任何异常。

电源指示灯稳定地亮起，示波器上捕捉到的芯片复位信号波形正常，静态电流也在预期的微安级别。

“上电初步正常！”

工程师报告道，声音中带着一丝如释重负。

“尝试通过JtAG读取deviceId。”

陈家俊立刻接续指令。

调试软件的界面上，一行命令被敲下。

片刻之后，屏幕上显示出了一串预设的、代表“龙芯一号”

身份的16进制编码。

“deviceId读取成功！

JtAG通路正常！”

“尝试初始化ddRSdRAm控制器，进行内存读写测试。”

又是一系列复杂的操作和指令。

测试程序开始尝试配置芯片内部的内存控制器，并对连接在测试板上的ddR内存颗粒进行读写操作。

“内存读写……基本正常！

地址线、数据线没有明显错误！”